產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION
相關(guān)文章
RELATED ARTICLES
-
BT-1001智能粉體特性測(cè)試儀
-
產(chǎn)品型號(hào)
BT-1001
-
廠商性質(zhì)
代理商
-
更新時(shí)間
2025-04-18
-
瀏覽次數(shù)
228
產(chǎn)品描述
智能粉體特性測(cè)試儀BT-1001是一種將粉體特性測(cè)試數(shù)值化、精確化的一種儀器。它通過自動(dòng)控制技術(shù)、CCD攝像技術(shù)和觸摸屏技術(shù)等現(xiàn)代技術(shù),使粉體物性測(cè)試進(jìn)入了科學(xué)化、智能化和精確化的時(shí)代。具體測(cè)試過程是用攝像機(jī)拍攝粉體的堆積圖像來精確分析安息角、崩潰角、差角和平板角;通過精確稱量和精密控制技術(shù)精確測(cè)試振實(shí)密度和松裝密度;通過軟件對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行精確處理得到準(zhǔn)確的粉體特性數(shù)據(jù)。
-
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀
-
產(chǎn)品型號(hào)
BeNano 180 Zeta Max
-
廠商性質(zhì)
代理商
-
更新時(shí)間
2025-04-08
-
瀏覽次數(shù)
278
產(chǎn)品描述
納米粒度及Zeta電位分析儀BeNano 180 Zeta Max 是最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等
-
JW-BK200C比表面積及孔徑分析儀
-
產(chǎn)品型號(hào)
JW-BK200C
-
廠商性質(zhì)
代理商
-
更新時(shí)間
2025-04-05
-
瀏覽次數(shù)
319
產(chǎn)品描述
比表面積及孔徑分析儀,兩個(gè)獨(dú)立工作站含P0,一站高精度1000Torr、10Torr、1Torr傳感器,二站高精度1000Torr、10Torr、1Torr傳感器,分子泵+機(jī)械泵真空系統(tǒng),兩個(gè)獨(dú)立脫氣站進(jìn)行異位脫氣,分析位也可原位脫氣。
-
JW-BK100C比表面積及孔徑分析儀
-
產(chǎn)品型號(hào)
JW-BK100C
-
廠商性質(zhì)
代理商
-
更新時(shí)間
2025-04-05
-
瀏覽次數(shù)
287
產(chǎn)品描述
比表面積及孔徑分析儀,單工作站雙分析位含P0,高精度1000Torr、10Torr、1Torr傳感器,分子泵+機(jī)械泵真空系統(tǒng),兩個(gè)獨(dú)立脫氣站進(jìn)行異位脫氣,分析位也可原位脫氣。
-
DX 400比表面積分析儀
-
產(chǎn)品型號(hào)
DX 400
-
廠商性質(zhì)
代理商
-
更新時(shí)間
2025-03-31
-
瀏覽次數(shù)
303
產(chǎn)品描述
比表面積分析儀DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面積測(cè)定儀,基于動(dòng)態(tài)色譜分析法原理實(shí)現(xiàn)BET比表面積快速測(cè)定,相比傳統(tǒng)產(chǎn)品,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確和快速兩大超越
準(zhǔn):可準(zhǔn)確測(cè)試超小比表面積0.1 m2/g的標(biāo)準(zhǔn)樣品,精確到0.01m2/g。
快:測(cè)試速度是傳統(tǒng)產(chǎn)品的3倍,可實(shí)現(xiàn)1小時(shí)28個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品的超高測(cè)試效率。
適合鈷酸鋰、三元材料、磷酸鐵鋰、石墨、硅碳等電池正負(fù)極材料及其他小比表面積樣品的測(cè)試。